8 дюймлы SiC пластиналары өчен югары төгәллекле лазер кисү җиһазлары: киләчәктә SiC пластиналарын эшкәртү өчен төп технология

Кремний карбиды (SiC) милли оборона өчен генә түгел, ә дөньякүләм автомобиль һәм энергетика сәнәгате өчен дә мөһим материал булып тора. SiC монокристалл эшкәртүдә беренче мөһим адым буларак, пластиналарны кисү аннан соңгы нечкәләштерү һәм ялтырату сыйфатын турыдан-туры билгели. Традицион кисү ысуллары еш кына өслек һәм астагы ярыклар барлыкка китерә, пластиналарның ватылу тизлеген һәм җитештерү чыгымнарын арттыра. Шуңа күрә, SiC җайланмалары җитештерүен алга җибәрү өчен өслек ярыкларының зыянын контрольдә тоту бик мөһим.

 

Хәзерге вакытта SiC комбайннарын кисү ике зур кыенлык белән очраша:

  1. Традицион күп чыбыклы кисүдә материал югалтулары югары:SiC-ның бик катылыгы һәм сынучанлыгы аны кисү, тарту һәм ялтырату вакытында кәкреләнүгә һәм ярылуга дучар итә. Infineon мәгълүматлары буенча, традицион поршеньле алмаз-смолка белән бәйләнгән күп чыбыклы кисү материалны кисүдә нибары 50% куллануга ирешә, ялтыратудан соң бер пластинаның гомуми югалтуы ~250 мкм га җитә, шуның белән куллануга яраклы материал минималь кала.
  2. Түбән нәтиҗәлелек һәм озын җитештерү цикллары:Халыкара җитештерү статистикасы күрсәткәнчә, тәүлек әйләнәсе өзлексез күп чыбыклы кисү ярдәмендә 10,000 пластина җитештерү якынча 273 көн вакыт ала. Бу ысул югары өслек тигезсезлеге һәм пычрану (тузан, калдык сулар) китереп чыгаручы киң җиһазлар һәм чыгым материалларын таләп итә.

 

1

 

Бу мәсьәләләрне хәл итү өчен, Нанкин университетындагы профессор Сю Сянцянь командасы SiC өчен югары төгәллекле лазер кисү җиһазларын эшләде, кимчелекләрне минимальләштерү һәм җитештерүчәнлекне арттыру өчен ультратиз лазер технологиясен кулланып. 20 мм SiC коелмасы өчен бу технология традицион чыбык кисү белән чагыштырганда пластина чыгышын икеләтә арттыра. Моннан тыш, лазер белән киселгән пластиналар югары геометрик бердәмлек күрсәтә, бу пластина калынлыгын 200 мкм га кадәр киметергә һәм җитештерүчәнлекне тагын да арттырырга мөмкинлек бирә.

 

Төп өстенлекләр:

  • Зур күләмле прототип җиһазлар буенча фәнни-тикшеренү һәм тәҗрибә-конструкторлык эшләре тәмамланды, 4–6 дюймлы ярымизоляцияле SiC пластиналарын һәм 6 дюймлы үткәргеч SiC коелмаларын кисү өчен расланган.
  • 8 дюймлы коелма кисү тикшерелә.
  • Кисү вакыты сизелерлек кыскара, еллык җитештерү күләме югарырак һәм уңыш 50% тан артык арта.

 

https://www.xkh-semitech.com/12-inch-sic-substrate-silicon-carbide-prime-grade-diameter-300mm-large-size-4h-n-suitable-for-high-power-device-heat-dissipation-product/

XKH'ның 4H-N тибындагы SiC субстраты

 

Базар потенциалы:

Бу җиһаз 8 дюймлы SiC коелмаларын кисү өчен төп чишелеш булырга әзер, хәзерге вакытта ул югары бәяле һәм экспорт чикләүләре белән Япониядән импорт товарлары белән өстенлек итә. Лазер кисү/сирәкләндерү җиһазларына эчке ихтыяҗ 1000 берәмлектән артып китә, ​​ләкин Кытайда җитештерелгән өлгергән альтернатива юк. Нанкин университеты технологиясе зур базар бәясенә һәм икътисади потенциалга ия.

 

Күп материаллы туры килүчәнлек:

SiC'тан тыш, җиһазлар галлий нитридын (GaN), алюминий оксидын (Al₂O₃) һәм алмазны лазер белән эшкәртүне хуплый, шуның белән аның сәнәгать кулланылышын киңәйтә.

SiC пластиналарын эшкәртүдә революция ясап, бу инновация ярымүткәргечләр җитештерүдәге мөһим киртәләрне хәл итә, шул ук вакытта югары нәтиҗәле, энергияне нәтиҗәле кулланучы материалларга юнәлтелгән глобаль тенденцияләргә туры килә.

 

Йомгаклау

Кремний карбиды (SiC) субстрат җитештерүдә тармак лидеры буларак, XKH яңа энергия транспорт чаралары (NEV), фотоэлектрик (PV) энергия саклау һәм 5G элемтә кебек югары үсешле тармаклар өчен махсуслаштырылган 2-12 дюймлы тулы зурлыктагы SiC субстратлары (шул исәптән 4H-N/SEMI-тип, 4H/6H/3C-тип) җитештерүгә махсуслаша. Зур үлчәмле пластиналарны түбән югалтулы кисү технологиясен һәм югары төгәллекле эшкәртү технологиясен кулланып, без 8 дюймлы субстратларны күпләп җитештерүгә һәм 12 дюймлы үткәргеч SiC кристалл үстерү технологиясендә алга китешләргә ирештек, бу чип берәмлегенә чыгымнарны сизелерлек киметте. Киләчәктә без 12 дюймлы субстратның уңышын глобаль көндәшлеккә сәләтле дәрәҗәләргә күтәрү өчен, сыекча дәрәҗәсендәге лазер кисү һәм акыллы киеренкелекне контрольдә тоту процессларын оптимальләштерүне дәвам итәчәкбез, бу илнең SiC сәнәгатенә халыкара монополияләрне җиңәргә һәм автомобиль класслы чиплар һәм ясалма интеллект серверларының электр белән тәэмин итү чыганаклары кебек югары дәрәҗәдәге өлкәләрдә масштабланырлык кушымталарны тизләтергә мөмкинлек бирәчәк.

 

https://www.xkh-semitech.com/sic-substrate-epi-wafer-conductivesemi-type-4-6-8-inch-product/

XKH'ның 4H-N тибындагы SiC субстраты


Бастырып чыгару вакыты: 2025 елның 15 августы